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        產品詳細頁
        薄膜厚度測量儀Delta

        薄膜厚度測量儀Delta

        • 產品介紹:薄膜厚度測量儀Delta
          Delta薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
        • 產品型號:Delta
        • 更新時間:2019-05-13
        • 廠商性質:生產廠家
        • 產品品牌:貝拓科學
        • 產品廠地:廣州市
        • 訪問次數:1443
        • 在線留言 020-34498462

        產品介紹

        價格區間面議

        薄膜厚度測量儀Delta

        產品特點

        快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高

        薄膜厚度測量儀Delta

        應用案例

        應用領域

                              半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)         LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)                                   

        LED (SiO2、光刻膠ITO等)                      觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等) 

                       

         汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)             醫學(聚對二甲苯涂層球囊/導尿管壁厚藥膜等)

        技術參數

        型號

        TF200-VIS

        TF200-EXR

        TF200-DUV

        TF200-XNIR

        波長范圍

        380-1050nm

        380-1700nm

        190-1100nm

        900-1700nm

        厚度范圍

        50nm-40um

        50nm-300um

        1nm-30um

        10um-3mm

        準確度1

        2nm

        2nm

        1nm

        10nm

        精度

        0.2nm

        0.2nm

        0.2nm

        3nm

        入射角

        90°

        90°

        90°

        90°

        樣品材料

        透明或半透明

        透明或半透明

        透明或半透明

        透明或半透明

        測量模式

        反射/透射

        反射/透射

        反射/透射

        反射/透射

        光斑尺寸2

        2mm

        2mm

        2mm

        2mm

        是否能在線

        掃描選擇

        XY可選

        XY可選

        XY可選

        XY可選

         

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