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        Microtrac S3500系列激光粒度分析儀

        Microtrac S3500系列激光粒度分析儀

        • 產品介紹:Microtrac S3500系列激光粒度分析儀
          原理上采用經典靜態光散射技術和全程米氏理論處理,利用現代模塊式設計理念,使用獲得的三激光光源技術
        • 產品型號:
        • 更新時間:2019-02-12
        • 廠商性質:生產廠家
        • 產品品牌:
        • 產品廠地:廣州市
        • 訪問次數:3240
        • 在線留言 020-34498462

        產品介紹

        品牌自營品牌分散方式干法分散
        價格區間面議儀器種類顆粒圖像分析儀
        產地類別國產

        Microtrac S3500系列激光粒度分析儀

        美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀,原理上采用經典靜態光散射技術和全程米氏理論處理,利用現代模塊式設計理念,使用獲得的三激光光源技術,配備超大角度雙鏡頭檢測系統,以對數方式排列151個高靈敏度檢測單元,無需掃描,平行通道實時接受散射光信息,提供準確可靠的測量信息。多種分散方式可選,干法與濕法測量之間的轉換,系統自動識別,方便快捷。S3500系列儀器*符合ISO 13320-1粒度分析-激光衍射方法的技術標準及21 CFR PART 11 安全要求,并被榮幸地為NIST標準物質認證儀器。
            Microtrac S3500系列激光粒度分析儀                    
        Microtrac S3500系列產品
        藍波2型(BWDL)):濕法測量范圍:0.01-2,800μm;干法測量范圍:0.25-2,800μm
        藍波1型(BWSL)):濕法測量范圍:0.01-2,000μm;干法測量范圍:0.25-2,000μm
        增強型(Enhanced):濕法測量范圍:0.02-2,800μm;干法測量范圍:0.25-2,800μm
        擴展型(eXtended):濕法測量范圍:0.02-2,000μm;干法測量范圍:0.25-2,000μm
        特殊型(speciaL) :  濕法測量范圍:0.09-1,500μm;干法測量范圍:0.25-1,500μm
        標準型(Standard):濕法測量范圍:0.25-1,500μm;干法測量范圍:0.25-1,500μm
        高端型(High)    :   濕法測量范圍:2.75-2,800μm;干法測量范圍:2.75-2,800μm
        基本型(Basic)   :   濕法測量范圍:0.70-1,000μm;干法測量范圍:0.70-1,000μm

        技術參數:
         測量范圍:0.01μm-2,800μm; 測量精度:0.6%; 測量時間:10-30 秒; 所需樣品量:0.05-2g;
        兼容性:與任何常用有機溶劑兼容
         光源: 三束3mW 780nm固體二極管激光器, 電腦控制自動校準; 準直功能:電腦控制自動對光;
        光路:固定光學平臺,傅利葉光路結合雙透鏡技術
         接受角度:0.02-163°; 檢測器:高靈敏硅光電二極管; 檢測器數量:151個對數方式優化排列
         操作靈活:兼容 Windows 98, 2000, NT和XP等操作系統; 報告格式:體積,數量和面積分布,包
        括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據以ODBC形式輸出兼容其他統計分析軟件和文字
        處理軟件; 安全性:數據的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
         環境要求:溫度10-35℃; 相對濕度:小于90%; 電源要求:90-240 VAC, 5A, 50/60Hz; 主機
        尺寸:高度33cm, 寬度55.9cm, 深度37.5cm, 重量25Kg
         標準化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析國際標準
         完整配置:固定光學平臺, 樣品分散系統, 計算機/打印機, 數據處理軟件

        主要特點:
         Tri-Laser激光系統, *消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點”的影響和
        多次米氏理論(Mie Theory)數學處理的誤差(米氏理論處理與波長有關)。
         “Bluewave”激光技術,拓展測量下限至0.01μm。
         無需掃描,同步接受全量程散射光信號,保證分
        析結果的高重現性及全量程范圍的高分辨率。
         家引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子,內置常用分析物質光學數據庫,
        提高顆粒粒度分布測試的準確性。
         系統自動對光,內置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度。
         多種樣品分散系統可供選擇,各種分散系統之間的轉換簡單方便,結果穩定*。
         現代模塊式設計,可根據實際應用需要允許選擇儀器的配置,以滿足將來的任何需要。
         數據處理靈活方便,體積分布,數量分布和強度分布,微分與累計百分比以及其他綜合報告
        形式任意組合,數據存儲兼容性強。
         NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質認證儀器。

         

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