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        FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

        FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

        • 產品介紹:FEG系列" 場發射環境掃描電子顯微鏡Quanta FEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產品之一。是在FEI公司著名產品XL30 ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。
        • 產品型號:
        • 更新時間:2019-02-12
        • 廠商性質:生產廠家
        • 產品品牌:威泰克
        • 產品廠地:廣州市
        • 訪問次數:2691
        • 在線留言 020-34498462

        產品介紹

        品牌自營品牌

        FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

        儀器簡介:

        Quanta FEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產品之一。是在FEI公司著名產品XL30 ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。
        Quanta FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢,可對各種各樣的樣品(包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等)進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。
        Quanta FEG和Quanta一樣具有優異的系統擴展性能,可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰極熒光等附件。

        FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

        主要特點:

        1.*數字化系統控制,Windows XP操作系統
        2.場發射環境掃描系統兼顧高分辨和樣品多樣性
        3.數字電影功能可將觀察過程記錄為avi視頻文件
        4.穩定的大束流(最大200nA)確保高速、準確的能譜、波譜和EBSD分析
        5.可安裝冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品原位、動態觀察和分析

         

        技術參數:

        1.分辨率:
         二次電子:
          高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV
          高真空減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)
          低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV
          環境真空模式 1.4nm @ 30kV
         背散射電子:
          高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV
         掃描透射STEM探測器:
          0.8nm @ 30kV
        2.加速電壓 200V ~ 30kV, 連續可調
        3.高穩定性Schottky場發射電子槍
        4.最大束流 200nA
        5.樣品室壓力最高達4000Pa
        6.樣品臺移動范圍
         Quanta 250 FEG: X=Y=50mm
         Quanta 450 FEG: X=Y=100mm
         Quanta 650 FEG: X=Y=150mm

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